表面粗さ・輪郭形状測定機
輪郭 , 輪郭アナログ , 50mm , ±0.25%フルスケール , 0.1μm~1μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
輪郭 , 輪郭デジタル , 50mm , ±(0.8|4H|/100)μm , 0.025μm
株式会社東京精密
HANDYSURF+
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 370μm , 0.7nm , 非該当
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 370μm , 0.7nm , 非該当
株式会社東京精密
Opt-scope R
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 光学白色干渉式 , オールインワン , 20mmx1.7mm(×10レンズ使用時)x1.7mm(×10レンズ使用時) , ±(0.1+|H/1000|)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 光学白色干渉式 , オールインワン , 20mmx1.7mm(×10レンズ使用時)x1.7mm(×10レンズ使用時) , ±(0.1+|H/1000|)μm
株式会社東京精密
Opt-scope S+
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 光学白色干渉式 , オールインワン , 20mmx1.7mm(×10レンズ使用時)x1.7mm(×10レンズ使用時) , ±(0.1+|H/1000|)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 光学白色干渉式 , オールインワン , 20mmx1.7mm(×10レンズ使用時)x1.7mm(×10レンズ使用時) , ±(0.1+|H/1000|)μm
株式会社東京精密
SURFCOM 1400G
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 800μm , 0.4nm~10nm(0.1nm) , (0.05+1.5L/1000)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 800μm , 0.4nm~10nm(0.1nm) , (0.05+1.5L/1000)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 粗さ:800μm
輪郭:50mm , 輪郭:±0.25%フルスケール , 粗さ:0.4nm~10nm(0.1nm)
輪郭:0.1μm~1μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 粗さ:800μm
輪郭:50mm , 輪郭:±(0.8|4H|/100)μm , 粗さ:0.4nm~10nm(0.1nm)
輪郭:0.025μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , DX:オールインワン
SD:セパレート , 1000μm , 0.1nm~20nm
株式会社東京精密
SURFCOM NEX030 DX2/SD2
表面粗さ・輪郭形状測定機
輪郭 , 輪郭デジタル , DX:オールインワン
SD:セパレート , 60mm , ̟±(1.2+|2H|/100)μm(20℃±2℃)
±(1.5+|2H|/100)μm(20℃±5℃)
表面粗さ・輪郭形状測定機
輪郭 , 輪郭デジタル , DX:オールインワン
SD:セパレート , 60mm , ̟±(1.2+|2H|/100)μm(20℃±2℃)
±(1.5+|2H|/100)μm(20℃±5℃)
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , DX:オールインワン
SD:セパレート , 粗さ:1000μm
輪郭:60mm , ̟±(1.2+|2H|/100)μm(20℃±2℃)
±(1.5+|2H|/100)μm(20℃±5℃)
表面粗さ・輪郭形状測定機
輪郭 , 輪郭デジタル , DX:オールインワン
SD:セパレート , 60mm , ±(0.8+|2H|/100)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , DX:オールインワン
SD:セパレート , 粗さ:1000μm
輪郭:60mm , ±(0.8+|2H|/100)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 統合デジタル , DX:オールインワン
SD:セパレート , 13mm , ±(1.0+|2H|/100)μm
株式会社東京精密
SURFCOMCREST DX/SD
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 統合デジタル , DX:オールインワン
SD:セパレート , 13mm , ±(0.2+|H|/1000)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 統合デジタル , DX:オールインワン
SD:セパレート , 13mm , ±(0.2+|H|/1000)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 370μm , 0.7nm , 非該当
株式会社東京精密
SURFCOMTOUCH 50
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 1000μm , 0.1nm~1.25nm , 0.3μm/50mm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 1000μm , 0.1nm~1.25nm , 0.3μm/50mm
株式会社東京精密
SURFCOMTOUCH 550
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 1000μm , 0.1nm~1.25nm , (0.05+1.5L/1000)μm
表面粗さ・輪郭形状測定機
粗さ , 粗さアナログ , 1000μm , 0.1nm~1.25nm , (0.05+1.5L/1000)μm
株式会社ミツトヨ
ROUNDTRACER FLASH S300
非接触表面粗さ・輪郭形状測定機
●精度とスピードを両立させたAll in One
●Z軸動作がないため、脅威の測定スピードを実現。
●画像の一貫性:複雑な部品形状を同じ画像フレーム内で取り込むため、測定時のごくわずかな機械的誤差も除外しています。
●軸の振れ:2次元画像フレームにより、部品を回転させながら各角度で表面全体を高精度に取り込む(動的測定)ことができます。
●貫通穴測定:画像の取り込みから貫通穴測定の実行までは、わずか数秒しかかかりません。 , ワーク回転標準機能搭載、静的・動的測定可能 , U95(1+D/100)xU95(2+L/100) , 60x300 , 90x300
非接触表面粗さ・輪郭形状測定機
●精度とスピードを両立させたAll in One
●Z軸動作がないため、脅威の測定スピードを実現。
●画像の一貫性:複雑な部品形状を同じ画像フレーム内で取り込むため、測定時のごくわずかな機械的誤差も除外しています。
●軸の振れ:2次元画像フレームにより、部品を回転させながら各角度で表面全体を高精度に取り込む(動的測定)ことができます。
●貫通穴測定:画像の取り込みから貫通穴測定の実行までは、わずか数秒しかかかりません。 , ワーク回転標準機能搭載、静的・動的測定可能 , U95(1+D/100)xU95(2+L/100) , 60x300 , 90x300
株式会社ミツトヨ
FORMTRACER FTA-H4D3000
非接触表面粗さ・輪郭形状測定機
●X軸(駆動部):80mm/s(MAX)Z2軸(コラム上下動):30mm/s(MAX)
移動速度の高速化によりトータル測定時間を短縮します。
●ストローク(退避)のスピードが従来機の約3倍に向上し、一方で安全運転に配慮してスタイラスダウンによるワーク接触はゆっくりと行います。ワーク接触は測定機自身が自動検出し、測定開始可能状態に従来機の3倍速ですばやく移行します。測定者が意識することなく測定時間を大幅に短縮。測定効率がアップします。
●測定開始位置から測定データ取得開始までの助走距離を極限まで削り、0.05mmを達成しています。測定長さの確保が困難な端面、狭小箇所の測定を強力にサポートします。
●傾斜面測定を効率よく行うため、傾斜角度±45°の範囲を測定できるX軸駆動部傾斜機構を装備しています。また、輪郭検出器C-4500搭載時には、測定力をデータ処理部(FORMTRACEPAK)から指定(5段階)でき、ウエイトの付け替えや位置調整による測定力の調整作業は不要です。また、傾斜姿勢でも指定した測定力に追従します。[X軸駆動部傾斜角度]
●従来の輪郭検出器で測定誤差の発生要因であった円弧直動変換機構を排除し、スタイラス先端の円弧軌道を円弧スケールで直接読み取る、新開発高精度デジタル円弧スケールを搭載。アームが水平姿勢でなくても高精度測定できる上に、ワイドレンジでの高精度測定が可能。測定レンジを気にすることなく、いつでも高精度測定ができます。
●検出器、駆動部のケーブルを全て本体内配線とすることで、測定誤差要因となる配線の擦れをなくし、高精度測定、高速移動に対応しています。
●輪郭検出器と粗さ検出器の交換作業の際、コントローラの電源OFFは不要、かつ、工具レス着脱機構(サムターンクランパー)により、交換時間を従来の約1/4(約30秒)と大幅に短縮。しかも、ガイドピンによる位置決めにより、検出器交換時の再現性を高め、自動測定プログラムの効率的な運用が可能となります。
●両側円すいスタイラスとの組み合わせにより上下面の連続測定が可能で、これまで測定が困難だったねじの有効径等も、上下面連続データを用いることで簡単に解析。マグネットアーム、検出器カバー衝突監視機能により高速移動でも安全に測定できる上に、自動化推進オプション搭載により段取りから測定までを自動化しています。
●スタイラスの測定面からの不意な落下を検知し、測定を中断するとともに、落下速度を制御し、スタイラスの破損回避をサポートします。
※ 輪郭検出器C-4500搭載時
●検出器のホールド位置を登録でき、登録したホールド位置よりも落ち込むことなく測定が可能です。この機能によってメカストッパ無しで切り欠きワークを連続測定できます。
, 指定範囲:-29 mm ~ +29 mm位置決め精度範囲:±1 mm , 0.05 , 0.01( 800 μm) , 1
非接触表面粗さ・輪郭形状測定機
●X軸(駆動部):80mm/s(MAX)Z2軸(コラム上下動):30mm/s(MAX)
移動速度の高速化によりトータル測定時間を短縮します。
●ストローク(退避)のスピードが従来機の約3倍に向上し、一方で安全運転に配慮してスタイラスダウンによるワーク接触はゆっくりと行います。ワーク接触は測定機自身が自動検出し、測定開始可能状態に従来機の3倍速ですばやく移行します。測定者が意識することなく測定時間を大幅に短縮。測定効率がアップします。
●測定開始位置から測定データ取得開始までの助走距離を極限まで削り、0.05mmを達成しています。測定長さの確保が困難な端面、狭小箇所の測定を強力にサポートします。
●傾斜面測定を効率よく行うため、傾斜角度±45°の範囲を測定できるX軸駆動部傾斜機構を装備しています。また、輪郭検出器C-4500搭載時には、測定力をデータ処理部(FORMTRACEPAK)から指定(5段階)でき、ウエイトの付け替えや位置調整による測定力の調整作業は不要です。また、傾斜姿勢でも指定した測定力に追従します。[X軸駆動部傾斜角度]
●従来の輪郭検出器で測定誤差の発生要因であった円弧直動変換機構を排除し、スタイラス先端の円弧軌道を円弧スケールで直接読み取る、新開発高精度デジタル円弧スケールを搭載。アームが水平姿勢でなくても高精度測定できる上に、ワイドレンジでの高精度測定が可能。測定レンジを気にすることなく、いつでも高精度測定ができます。
●検出器、駆動部のケーブルを全て本体内配線とすることで、測定誤差要因となる配線の擦れをなくし、高精度測定、高速移動に対応しています。
●輪郭検出器と粗さ検出器の交換作業の際、コントローラの電源OFFは不要、かつ、工具レス着脱機構(サムターンクランパー)により、交換時間を従来の約1/4(約30秒)と大幅に短縮。しかも、ガイドピンによる位置決めにより、検出器交換時の再現性を高め、自動測定プログラムの効率的な運用が可能となります。
●両側円すいスタイラスとの組み合わせにより上下面の連続測定が可能で、これまで測定が困難だったねじの有効径等も、上下面連続データを用いることで簡単に解析。マグネットアーム、検出器カバー衝突監視機能により高速移動でも安全に測定できる上に、自動化推進オプション搭載により段取りから測定までを自動化しています。
●スタイラスの測定面からの不意な落下を検知し、測定を中断するとともに、落下速度を制御し、スタイラスの破損回避をサポートします。
※ 輪郭検出器C-4500搭載時
●検出器のホールド位置を登録でき、登録したホールド位置よりも落ち込むことなく測定が可能です。この機能によってメカストッパ無しで切り欠きワークを連続測定できます。
, 指定範囲:-29 mm ~ +29 mm位置決め精度範囲:±1 mm , 0.05 , 0.01( 800 μm) , 1